顔認証のなりすまし検知を高精度に実現、NECが新技術を開発　ISO規格にも適合

　日本電気株式会社（NEC）は11日、顔認証を行う際に、写真やディスプレイ表示、3Dマスクなどによるなりすましを高精度に検知する技術を開発した。同技術は国内企業で初めて、国際的な独立系第三者品質保証機関「iBeta」による試験において、ISO規格に適合したという。

　iBetaは、さまざまなソフトウェアの品質保証サービスをグローバルで展開する独立系の品質保証事業者。特に生体認証の品質保証においては、米国国立標準技術研究所（NIST）から認定を受けているとのことで、顔認証のなりすまし検知ソフトウェアの品質保証については、ISO規格に準拠した基準として、顔写真およびディスプレイに表示した顔画像の受入率0％（レベル1）と、3Dマスクやマネキンなどの受入率1％以下（レベル2）を設けている。

　NECは今回、同社の生体認証「Bio-IDiom」の中核技術である顔認証技術の研究・開発で培ってきたノウハウを生かし、なりすましを高精度に検知する技術を開発。前述したiBetaの品質保証基準のレベル1に加え、上位となるレベル2にも適合したという。さらに本人の顔の拒否率についても、iBetaの基準である15％以下を超え、5％以下を実現したとのこと。

　これに関してNECでは、一般的に、低いなりすまし受入率と本人拒否率は両立しえないが、今回の技術ではその両方を実現したとアピールしている。

　さらにNECでは、リソースが限られているスマートフォンやタブレット端末などでも動作できるよう、なりすまし検知の処理を軽量化させており、決済アプリケーションやWebサイトなど、モバイル端末上で顔認証を行う際も、スムーズななりすまし検知と防止が可能になるとのことだ。

　NECは今後、モバイル端末向けアプリケーションに加えて、企業・施設・イベント会場の入退場ゲートや決済端末など、さまざまなシーンで活用できる製品を提供する考えである。