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東芝デジタルソリューションズの「AI画像自動検査パッケージ」、外観検査自動化の品質・生産性向上を実現する新機能を提供
2025年12月22日 08:00
東芝デジタルソリューションズ株式会社は18日、製造業の検査工程における外観検査自動化をサポートする「Meister Apps AI画像自動検査パッケージ」において、「欠陥判定最適化手法」を採用した新版を提供開始すると発表した。
「Meister Apps AI画像自動検査パッケージ」は、良品学習方式を用いたAI画像検査技術により、製造業の検査工程における外観検査自動化をサポートするソリューションである。
今回の新版では、外観検査自動化における課題「過検出」を抑制するための機能を導入した。過検出とは、製品に問題がないにもかかわらず、検査装置が不良（NG）品と判定してしまう現象。不良品の見逃しを防ぐため、判定しきい値を厳しく設定することが発生の主な原因だが、過検出が発生すると、再検査のための作業や廃棄費用が発生し、生産効率の低下やコスト増につながるという。
今回採用された「欠陥判定最適化手法」は、外観検査での画像判定において、以前から提供しているAIによる「良品学習機能」に、特徴量解析を用いた補正・分類処理などを組み合わせ、欠陥ごとに最適なしきい値で判定できる仕組み。欠陥画像の位置や輝度のばらつきを補正し、同一条件で判定できるほか、欠陥部分から抽出した特徴量に基づいて分類し、分類パターンごとに良品しきい値を設定して判定できる。
この手法により、外観検査装置で検出された欠陥画像の過検出を抑制し、再検査に要していた作業工数を大幅に削減可能。さらに検査員による検査品質のばらつきや目疲れなどによる見逃しを抑止し、真の欠陥画像の見逃し防止にもつながるとした。