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NEC、ジョン・F・ケネディ国際空港に入国審査用の顔認証システムを納入

 日本電気株式会社(NEC)は13日、米国のジョン・F・ケネディ国際空港(JFK空港)に、入国審査用の顔認証システムを納入したと発表した。システムは、現地システムインテグレーターの米Unisysを通じて提供し、既に稼働を開始している。

 米国では、セキュリティの向上とスムーズな入国審査の実現を目的として、国土安全保障省 税関・国境取締局(CBP)が全米の国際空港における出入国管理を強化しており、今回のプロジェクトはその活動の一環となる。

 NECでは、顔認証システム「NeoFace」をJFK空港に納入。入国審査用の自動ゲート(Unisysが設置)で読み取ったeパスポートの顔写真データと、ゲートに備え付けられたカメラで撮影した旅行者の顔写真をリアルタイムに照合し、同一人物であるかどうかを高精度に判定するために利用される。

 JFK空港では、ビザ免除プログラムを使って初めて米国に入国する旅行者と、eパスポートを保有する米国籍の帰国者を対象に、今回のシステムの運用を開始している。

 NECでは、同社の顔認証技術は、米国国立標準技術研究所が実施したベンチマークテストにおいて、世界1位の照合精度を有するとの評価を得ていると説明。今回のJFK空港のほか、米国アリゾナ州交通局、ブラジル主要14国際空港における税関業務など、これまでに世界40カ国以上で導入されているという。